一. 測試目的

為了(le)防止(zhi)人體受到(dao)傷害, 單體內如(ru)有如(ru)下不(bu)良(liang) : 螺絲松動, 未(wei)鎖(suo), 零件腳裂錫(xi), 未(wei)焊, 冷(leng)焊以及零件腳沒有插入孔內, 變(bian)壓器及零件絕(jue)緣度(du)不(bu)佳或絕(jue)緣間隙距離(li)不(bu)夠, 螺絲或其(qi)它異(yi)物掉落其(qi)中, FUNCTION測(ce)試(shi)無法(fa)偵(zhen)測(ce)到(dao)異(yi)常(chang)之(zhi)狀態(tai), 因而, 從保護產品(pin)質量和(he)產品(pin)的安全規則(ze)要求(qiu)的角度(du)出(chu)發, 必須要能檢測(ce)出(chu)這些不(bu)良(liang), 靜(jing)態(tai)時, 單體內上述不(bu)良(liang), 測(ce)試(shi)設備難(nan)找(zhao)出(chu), 只(zhi)有將單體放置, 于振動系統中, 上述不(bu)良(liang)才可通過儀器設備測(ce)出(chu)來.

二. 測試原理

1. HI-POT TEST<高(gao)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)測(ce)試(shi)>: 利用高(gao)壓(ya)加于某一有絕(jue)緣(yuan)程(cheng)度的(de)物體(ti)兩端(duan), 通(tong)過漏(lou)電(dian)流(liu)的(de)大(da)小來(lai)判知物體(ti)之(zhi)(zhi)間絕(jue)緣(yuan)性是(shi)否達到(dao)其絕(jue)緣(yuan)的(de)規格之(zhi)(zhi)要求, 在此, 我們是(shi)把單體(ti)的(de)NEVTRAL與(yu)LINE短(duan)路(lu)接于高(gao)壓(ya)HV端(duan), 輸(shu)出端(duan)與(yu)地線(xian)短(duan)路(lu)接向(xiang)RETURN端(duan), 加入(ru)高(gao)壓(ya), 量測(ce)漏(lou)電(dian)流(liu)之(zhi)(zhi)大(da)小, 來(lai)判定輸(shu)入(ru)端(duan)與(yu)輸(shu)出端(duan), 以(yi)及輸(shu)入(ru)端(duan)對(dui)接地端(duan)絕(jue)緣(yuan)度是(shi)否符合安全規格之(zhi)(zhi)要求,

2. GROUND CONTINVITY(接地測(ce)(ce)試)：對AC輸入端的GND及待測(ce)(ce)物的外(wai)殼(ke)灌入25A的電流,測(ce)(ce)得(de)地線(xian)與(yu)外(wai)殼(ke)不能完全接觸,這樣測(ce)(ce)量得(de)阻值會大于0.1Ω.只有通過(guo)GROUND CONTINUITY 測(ce)(ce)試才符合安(an)規(gui)要求,

3. ARCING TEST(電弧測試)：當高壓的兩端(duan)(duan)靠很近時,會有(you)(you)尖端(duan)(duan)放電現象(xiang)產生(sheng),此(ci)一現象(xiang)經(jing)長時間(jian)的發生(sheng)將可能對產品產生(sheng)很大的傷(shang)害,較常見(jian)的現象(xiang)有(you)(you),當要(yao)組件兩端(duan)(duan)加(jia)高壓時,組件腳有(you)(you)一個未焊住,但與焊點有(you)(you)接觸,在(zai)振動時,偶爾脫開很小幅度,從而產生(sheng)尖端(duan)(duan)放電或(huo)有(you)(you)些組件絕緣層有(you)(you)少許的刮傷(shang),              &nbsp;                        

   &nbsp; ARCING定義：ARC為一(yi)物理現象,通常是指兩(liang)端點之間,因距離不夠或介(jie)質存(cun)在(zai),          

     而(er)在通電時(shi)產生的一個跳火(huo)現象(xiang),此(ci)跳火(huo)現象(xiang)通常為非連續性(xing)的,

    ARCING偵測的(de)(de)目的(de)(de)：ARC的(de)(de)產(chan)生,并(bing)不會(hui)(hui)(hui)造(zao)(zao)成產(chan)品立即故障或對人體(ti)傷害(hai)的(de)(de)問題,但它會(hui)(hui)(hui)隨使用時的(de)(de)的(de)(de)增長,而(er)造(zao)(zao)成兩(liang)端點間的(de)(de)絕緣日益破壞,進而(er)造(zao)(zao)成機器(qi)的(de)(de)故障或對人體(ti)的(de)(de)危(wei)害(hai),例如”SPS內的(de)(de)PCB的(de)(de)螺絲鎖緊,可能會(hui)(hui)(hui)因工(gong)作(zuo)一(yi)段時間后,中間介(jie)質阻(zu)抗改變,造(zao)(zao)成浮動電位,進一(yi)步破壞PCB內部組件,或因ARC的(de)(de)產(chan)生,影響SPS的(de)(de)正常工(gong)作(zuo).因此ARC偵測的(de)(de)目的(de)(de)在防患未然,也(ye)可說是產(chan)品可靠度試驗,

ARC偵試線路(lu)原理(li)：在ARC的定(ding)義列ARC為非連續性(xing)的,且約為1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號,因(yin)此ARC偵測線路(lu)原理(li)如(ru)下(xia)：

   從被測物電流訊號經(jing)過兩(liang)回路,一為20—PASS  FILTER,20—PASS  FIELTER 

   是將電流信號轉換成RMS值,以便量測(ce)與判定,HI—PASS  FILTER則(ze)是當被測(ce)物電  

   流信(xin)號(hao)有ARC(高頻(pin)信(xin)號(hao))產生(sheng)時,將低(di)頻(pin)濾掉,只留高頻(pin)信(xin)號(hao),并(bing)經過量測與(yu)判別,以上為ARC偵測線路原(yuan)理.

  ARC功能偵測(ce)計算：ARC的(de)產生與兩端點間的(de)電壓與距(ju)離(li)有關(guan),因此(ci),ARC的(de)產生

   通常在(zai)(zai)高壓時產生,也(ye)就(jiu)是在(zai)(zai)波峰產生,并且ARC的高頻訊號也(ye)是載在(zai)(zai)波峰上故計算(suan)

   與量測(ce)方式都是(shi)以MHP：

例(一)：

      測試電壓AC1250VAC時(shi)：

 &nbsp;    VP=1250*√2=1768V,以(yi)電阻500KΩ做介(jie)質

    ;  GAP=兩(liang)端點(dian)距(ju)離調(diao)整至ARC剛好產生,約0.5MM左右

   &nbsp;  因此,ARC電(dian)流為I=V/R=1768/1500K=3.5MAP

從上(shang)述來看,可奧姆定律來計(ji)算,但(dan)此為(wei)理(li)論值,故我們必須考慮各(ge)種誤差的(de)可能,如

GAP大(da)小(xiao),電阻含   性等因素.

ARC等級說明:

9等級(0.0027A)

8等級(0.0055A)

7等級(0.0077A)

6等級(0.0100A)

5等(deng)級(0.0120A)

4等級(0.0140A)

3等級(0.0160A)

2等級(0.0180A)

1等級(ji)(0.0200A)

三 測試設備：

1. AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交(jiao)流(liu)抗(kang)壓測試器)

2. AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低電阻測試儀)

3. 振動機臺.

四.測試項目

   1.HI-POT TEST   (高壓測試)

&nbsp;  2.ARCING TEST   (高(gao)弧測試)

4. GROUND CONTINUITY TEST(接地測試)

5. INSULATION     (絕緣阻抗測試)

五.儀器操作(以7440為參(can)考)

   1.WITHSTANDING  VOLTAGE  TESTER 選(xuan)擇項(xiang)目選(xuan)按AC-W鍵：

           W-VOLT     1500V  &nbsp;      （按數字鍵輸入(ru)）

           HIIMIT      13MA&nbsp;         (按數字(zi)鍵輸入)

     ;      LO-LIMIT    8.0MA         (按數字(zi)鍵輸入)

           RAMP TIME    1S           (按數字鍵輸入)

           DWEU TIME    3S       &nbsp; &nbsp; (按數(shu)字鍵輸入)

      &nbsp;&nbsp;   FREQVENCY   60HZ         (已(yi)設定好)

           ARC  SENSE     8           (已設定好(hao))

           ARC  FAIL    &nbsp; ON          (按ENTER鍵切換ON/OFF)

           SCANNER SETCH  ;           (未用)

           OFFSET      &nbsp;               (未設定)

 &nbsp;     &nbsp;   CONNECT     ON或OFF     (按ENTER鍵切(qie)換ON/OFF)

         按(an)“V”鍵(jian)上下翻頁按(an)‘ENTER’自動存儲(chu),AC或(huo)DC請按(an)ENTER鍵(jian)切換,設定一樣(yang)欲  知詳細設定,請參考使用者手(shou)冊.

     &nbsp;   AC  LOW  RESISTANCE&nbsp; TESTER

   &nbsp;     先按(an)：GROUNDING后

 &nbsp;         CURRENT     25A       (已設(she)定好(hao))

           CURRENT      25A         (已設定好(hao))

           VOLTAGE       8V       &nbsp;  (已(yi)設定好)

           HI-LIMIT &nbsp;    0.1MΩ  ;     (按(an)數字鍵輸入)

   &nbsp;       20-LIMIT       0MΩ        (按數字鍵輸入)

       &nbsp;   PWELL TIME    2S          (按數字鍵輸入)

        ;   FREQUENCY  60HZ或50HZ  (按數字鍵輸入)

           SCANNER &nbsp;     CH          (未(wei)用)

           OFFSET   &nbsp;                  (未設定)

           CONNCT &nbsp;    ON或OFF     (按ENTER鍵切(qie)換)

 &nbsp;         按‘ENTER’鍵結束

六.儀器檢查

   1.HI-POT的檢查(cha)

&nbsp;  &nbsp; 治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)原(yuan)理(li):用一個固定電阻箱檢查HI-POT的輸出電壓,根據線路(lu)原(yuan)理(li):U=IR,計算出治(zhi)(zhi)具(ju)(ju)檢

     測(ce)時(shi)之(zhi)漏電(dian)流值,并作DAILY  CHECK之(zhi)比較(jiao)依據.

     按(an)(an)MEMORY鍵(jian),輸入治具上標明之電流(liu)參數,接好FAIL SAMPLE按(an)(an)TEST,應聽到(dao)蜂嗚器的

     叫聲(sheng),且電流值(zhi)應(ying)大于FAIL  SAMPLE上標明(ming)之漏電流值(zhi).

七.測試判定

  測試不良分以(yi)下幾種:

  BREAKDOWN          &nbsp; OVER FLOW+ARC:輸(shu)出過載, 電弧信號

  SHORT       &nbsp;       &nbsp;  OVER FLOW :輸(shu)出過載

  HI LIMIT FAIL          &nbsp; OVER HI LIMIT SETTING : 電流過大失敗

  ARC FAIL   &nbsp;            >10VS PEAK CURRENT DETECTING

&nbsp; LO LIMIT FAIL           UNDER LO LIMIT SETTING : 電流過小(xiao)失敗

  OPEN                   CHANGE LO : 直(zhi)流電(dian)壓(ya)緩升充電(dian)電(dian)流

  OFL           &nbsp;         OVER FLOW :輸出過載